О надежности логических входов микропроцессорных устройств релейной защиты
Проблемы надежности микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) являются весьма актуальными в связи с повсеместным переходом от электромеханических и статических реле к микропроцессорным. Широко распространенное мнение о якобы очень высокой надежности МУРЗ, на порядки превышающей надежность вышеназванных реле защиты, на поверку оказывается не более чем распространенным мифом, многие годы формирующимся под влиянием рекламных публикаций фирм-производителей.